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Metric learning for patent similarity = Aprendizado métrico para similaridade entre patentes

Metric learning for patent similarity = Aprendizado métrico para similaridade entre patentes

Pablo Alejandro Fonseca Arroyo

DISSERTAÇÃO

Inglês

T/UNICAMP F733m

[Aprendizado métrico para similaridade entre patentes]

Campinas, SP : [s.n.], 2015.

1 recurso online ( 38 p.) : il., digital, arquivo PDF.

Orientador: Jacques Wainer

Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Computação

Resumo: Hoje em dia, obter uma melhor visão de um campo de tecnologia é crucial para a estratégia nos negócios, na universidade e no governo. As patentes são uma fonte muito importante de informação ao respeito. A similaridade textual entre patentes é um dos tipos de similaridade em que os analistas... Ver mais
Abstract: Nowadays, gaining insight into a technology field is crucial for business, academy and government strategy. Patents are a great source of information in this regard. Textual patent similarity is one of the kinds of similarities in which patent analysts are interested in order to better... Ver mais

Requisitos do sistema: Software para leitura de arquivo em PDF

Aberto

Metric learning for patent similarity = Aprendizado métrico para similaridade entre patentes

Pablo Alejandro Fonseca Arroyo

										

Metric learning for patent similarity = Aprendizado métrico para similaridade entre patentes

Pablo Alejandro Fonseca Arroyo