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Type: Patente
Title: Espectrometria De Espalhamento De Raios X (eerx) Associada A Quimiometria
Author: Bueno Maria Izabel Maretti Sil
Souza Aline Moreira De
Castro Martha Teresa Pantoja D
Abstract: ESPECTROMETRIA DE ESPALHAMENTO DE RAIOS X (EERX) ASSOCIADA À QUIMIOMETRIA. A presente invenção refere-se ao desenvolvimento, otimização e avaliação de um método de análise para substâncias orgânicas e inorgânicas, utilizando espalhamento de fontes de raios X, com resolução alcançada pela utilização de ferramentas quimiométricas. Nesse novo método, as amostras de natureza orgânica ou inorgânica são submetidas à radiação X. Os espectros obtidos são organizados sob a forma de matriz e os dados, quando multivariados são tratados utilizando quimiometria. Se não, utiliza-se tratamento univariado. Desta forma, podem ser obtidas informações tanto de natureza qualitativa quanto quantitativa. Este novo método denominado de Espectrometria de Espalhamento de Raios X (EERX) foi desenvolvido, otimizado e avaliado em duas aplicações analíticas. A primeira relacionada à classificação de amostras como padrões úteis em análise ambiental e de metabolismo animal e, a outra, relacionada com medição quantitativa da massa molar de polímeros naturais orgânicos.
Rights: aberto
Date Issue: 8-Nov-2005
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