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dc.contributor.CRUESPUNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINASpt_BR
dc.descriptionOrientador: Carlos Ignacio Zamitti Mammanapt_BR
dc.descriptionDissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia de Campinaspt_BR
dc.format.extent1v. (varias paginações).pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdfpt_BR
dc.languagePortuguêspt_BR
dc.typeDISSERTAÇÃOpt_BR
dc.titleMedidas eletricas em dispositivos semi-condutorespt_BR
dc.contributor.authorKretly, Luiz Carlos, 1950-pt_BR
dc.contributor.advisorMammana, Carlos Ignacio Zamitti, 1941-pt_BR
dc.contributor.institutionUniversidade Estadual de Campinas. Faculdade de Engenharia de Campinaspt_BR
dc.contributor.nameofprogramPrograma de Pós-Graduação em Engenharia Elétricapt_BR
dc.subjectSemicondutorespt_BR
dc.subjectMedidas elétricaspt_BR
dc.subjectEngenharia elétricapt_BR
dc.description.abstractResumo: Para se avaliar o comportamento de dispositivos semicondutores, bem como controlar os parâmetros dos processos de fabricação, é necessário identificar os processos e mecanismos de transporte eletrônico que ocorrem no mesmo. Essa identificação e feita através da medida de grandezas elétricas convenientes. Essas medidas são estabelecidas em função de modelos matemáticos propostos para o comportamento do dispositivo. 0 presente trabalho objetiva o estabelecimento de um parâmetro conjunto de técnicas de medições elétricas que permitam caracterizar dispositivos eletrônicos semicondutores, com a finalidade de estabelecer os processos padrões de medição das características dos componentes fabricados no LED. A primeira parte deste consta de uma resenha de métodos de medida de resistividade de semicondutores, bem como dos modelos e fatores de correção para diversas geomeias e condições das amostras; o método das pontas e o método de vander Pauw são extensivamente analisados. Quatro No capítulo 2 se apresenta uma resenha dos modelos, para os principais processos elétricos dos dispositivos semicondutores e se discutem métodos de .medidas que permitem caracterizá-los. Para essas caracterizações são discutidas principalmente medidas do comportamento das variáveis terminais do dispositivo tendo como parâmetros a temperatura e/ou a radiação luminosa. Uma grande quantidade de 1nformções a respeito do dispositivo é a obtida através de um conjunto de medidas convenientes, compostos pelas seguintes características: IxV, log(I)xV, aI/av x v, 10g(aI/aV)xV, CxV, ml/C xV, como . função da temperatura e/ou radiação luminosa' incidente Estão descritos neste trabalho (capítulo 2) os modelos matemáticos ma1S significativos dos diapositivos eletrônicos, com o objetivo de exemplificar algumas das diversas técnicas e circuitos de instrumentação desenvolvidos para obter as medidas acima. o capítulo 3 descreve os circuitos desenvolvidos para se obter as principais medidas elétricas e apresenta os resultados experimentais obtidos com tal instrumental. A conveniência o~ não da utilização de algumas técnicas é, também, discutida, bem como sugestões para o futuro aperfeiçoamento daquelas que se apresentaram mais promissoras. o apêndice contém dados referentes ao capítulo 1 e informações sobre equipamentos cuja importância no desenvolvimento do trabalho exige uma referência diretapt
dc.description.abstractAbstract: Not informed.en
dc.publisher[s.n.]pt_BR
dc.date.issued1978pt_BR
dc.identifier.citationKRETLY, Luiz Carlos. Medidas eletricas em dispositivos semi-condutores. 1978. 1v. (varias paginações). Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia de Campinas, Campinas, [SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/322514>. Acesso em: 16 jul. 2018.pt_BR
dc.description.degreelevelMestradopt_BR
dc.description.degreenameMestre em Engenharia Elétricapt_BR
dc.date.available2018-07-16T04:28:08Z-
dc.date.accessioned2018-07-16T04:28:08Z-
dc.description.provenanceMade available in DSpace on 2018-07-16T04:28:08Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Kretly_LuizCarlos_M.pdf: 8042297 bytes, checksum: 6afdd9cabec20c150d562a3931998a3f (MD5) Previous issue date: 1978en
dc.identifier.urihttp://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/322514-
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