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Type: TESE
Title: Espalhamento de raios-X em vidros com alto teor de manganês
Author: Souza, Jose Carlos de
Advisor: Caticha-Ellis, Stephenson, 1927-2003
Abstract: Resumo: As propriedades magnéticas e as anomalias na velocidade do som em vidros de composição Al2-SiO2-MnO estudadas por Verhelst, Kline, de Graaf e outros( 1, 2 ), foram explicadas por um modelo de monodomínios de alta concentração de Mn, os que teoricamente teriam dimensões da ordem de 50 Å. Neste trabalho são apresentados os resultados das experiências de difração abaixo ângulo realizadas com amostras desses vidros. A partir da curva da intensidade obtida calculou-se o tamanho das microregiões heterogêneas responsáveis pelo espalhamento central detectado. As dimensões obtidas variam de 60 a 86 Å. A observação da amostra por Microscopia Eletrônica de Transmissão mostrou a existência de microregiões esféricas de diâmetro similares às obtidas pelos raios-X. 1. Phys. Rev. B, vol. 116 4427.(1975). 2. Phys. Rev. B, vol. 11, 4436 (1975)

Abstract: The magnetic properties and some anomalies in the sound velocity measured in the glass system Al2O3-SiO2-MnO were reported by Verhelst, Kline, de Graaf, et al. ( 1, 2 ). A theory was developed by these authors in which the experimental results were best explained by the presence of clusters ( monodomains ) with higher concentration of Mn ions. The dimensions of these monodomains would be of approximately 50 Å. In this work, we present the results of low angle X-ray scattering experiments performed with these glasses. From the intensity curve obtained we calculated the size of the heterogeneous micro-regions present in the sample, originating the central scattering detected. The particle dimensions calculated varied between 60 and 86 Å. Observation of the sample in the transmission electron microscope confirmed the presence of spherical particles ( micro-regions ) of similar dimensions to the ones predicted by the small angle scattering experiments. 1. Phys. Rev. B, vol. 11, 4427 (1975). 2. Phys. Rev. B, vol. 11, 4436 (1975)
Subject: Raio X
Difração
Microscopia eletrônica
Language: Português
Editor: [s.n.]
Date Issue: 1979
Appears in Collections:IFGW - Dissertação e Tese

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