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Type: TESE
Title: Tecnicas de microscopia de tunelamento de eletrons (MTE) e microscopia de força atomica (MFA) aplicadas ao estudo desuperficies de grafite e diamante
Author: Fukui, Marcelo
Advisor: Baranauskas, Vitor, 1952-2014
Abstract: Resumo: As técnicas de Microscopia de Tunelamento de Elétrons (MTE) e Microscopia de Força Atômica (MFA) são extremamente poderosas para a análise morfológica de superfícies, indo da escala micrométrica a escala atômica. Nesta tese fazemos uma revisão teórica de seus princípios com o objeto de esclarecer as análises posteriores. Foram realizadas imagens de Grafite Pirolítico Altamente Orientado (HOPG) á nível atômico por MTE e MFA, a fim de: exarcebar as diferenças fundamentais entre a MTE e MFA; utilizar o grafite HOPG como uma amostra de escala atômica "padrão"; otimização dos parâmetros - como corrente, tensão, fôrça, velocidade de varredura, etc. - a fim de otimizarmos as técnicas com uma amostra conhecida, proporcionando então, uma referência para posteriores trabalhos com grafites intercalados, grafites naturais, e outros. Empregamos a MFA também na análise de filmes de diamante crescidos pelo processo de deposição química a partir da fase vapor, cujos resultados propiciaram imagens atômicas de sua superfície

Abstract: Not informed.
Subject: Microscopia eletrônica
Microscópio e microscopia
Language: Português
Editor: [s.n.]
Date Issue: 1992
Appears in Collections:FEEC - Tese e Dissertação

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