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dc.contributor.CRUESPUNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINASpt_BR
dc.identifier(Broch.)pt_BR
dc.descriptionOrientadores: Mario Jino, Silvia Regina Vergiliopt_BR
dc.descriptionTese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computaçãopt_BR
dc.format.extent140p. : il.pt_BR
dc.format.mimetypeapplication/pdfpt_BR
dc.languagePortuguêspt_BR
dc.typeTESEpt_BR
dc.titleAbordagem de teste baseada em defeitos para esquemas de dadospt_BR
dc.title.alternativeFault-based testing approach for data schemaspt_BR
dc.contributor.authorEmer, Maria Claudia Figueiredo Pereirapt_BR
dc.contributor.advisorJino, Mario, 1943-pt_BR
dc.contributor.coadvisorVergilio, Silvia Reginapt_BR
dc.contributor.institutionUniversidade Estadual de Campinas. Faculdade de Engenharia Elétrica e de Computaçãopt_BR
dc.contributor.nameofprogramPrograma de Pós-Graduação em Engenharia Elétricapt_BR
dc.subjectEngenharia de softwarept_BR
dc.subjectProgramas de computador - Testespt_BR
dc.subjectSoftware - Banco de dadospt_BR
dc.subjectXML (Linguagem de marcação de documento)pt_BR
dc.subjectModelagem de dadospt_BR
dc.subjectUML (Linguagem de modelagem padrão)pt_BR
dc.subject.otherlanguageData schemasen
dc.subject.otherlanguageDta integrityen
dc.subject.otherlanguageFault-based testingen
dc.subject.otherlanguageXML, Databaseen
dc.description.abstractResumo: Dados são manipulados em várias aplicações de software envolvendo operações críticas. Em tais aplicações assegurar a qualidade dos dados manipulados é fundamental. Esquemas de dados definem a estrutura lógica e os relacionamentos entre os dados. O teste de esquemas por meio de abordagens, critérios e ferramentas de teste específicos é uma forma pouco explorada de assegurar a qualidade de dados definidos por esquemas. Este trabalho propõe uma abordagem de teste baseada em classes de defeitos comumente identificados em esquemas de dados. Um metamodelo de dados é definido para especificar os esquemas que podem ser testados e as restrições aos dados nos esquemas. Defeitos possíveis de serem revelados são os relacionados à definição incorreta ou ausente de restrições aos dados no esquema. A abordagem inclui a geração automática de um conjunto de teste que contém instâncias de dados e consultas a essas instâncias; as instâncias de dados e as consultas são geradas de acordo com padrões definidos em cada classe de defeito. Experimentos nos contextos de aplicações Web e de base de dados foram realizados para ilustrar a aplicação da abordagempt
dc.description.abstractAbstract: Data are used in several software applications involving critical operations. In such applications to ensure the quality of the manipulated data is fundamental. Data schemas define the logical structure and the relationships among data. Testing schemas by means of specific testing approaches, criteria and tools has not been explored adequately as a way to ensure the quality of data defined by schemas. This work proposes a testing approach based on fault classes usually identified in data schemas. A data metamodel is defined to specify the schemas that can be tested and the constraints to the data in schemas. This testing approach provides means for revealing faults related to incorrect or absent definition of constraints for the data in the schema. The approach includes the automatic generation of a test set which contains data instances and queries to these instances; the data instances and queries are generated according to patterns defined in each fault class. Experiments in the contexts of Web and database applications were carried out to illustrate the testing approach applicationen
dc.publisher[s.n.]pt_BR
dc.date.issued2007pt_BR
dc.identifier.citationEMER, Maria Claudia Figueiredo Pereira. Abordagem de teste baseada em defeitos para esquemas de dados. 2007. 140p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/261002>. Acesso em: 9 ago. 2018.pt_BR
dc.description.degreelevelDoutoradopt_BR
dc.description.degreedisciplineEngenharia de Computaçãopt_BR
dc.description.degreenameDoutor em Engenharia Elétricapt_BR
dc.contributor.committeepersonalnameMelo, Ana Cristina Vieira dept_BR
dc.contributor.committeepersonalnameSouza, Simone do Rocio Senger dept_BR
dc.contributor.committeepersonalnameChaim, Marcos Lordellopt_BR
dc.contributor.committeepersonalnameRicarte, Ivan Luiz Marquespt_BR
dc.contributor.committeepersonalnameMagalhães, Leo Pinipt_BR
dc.date.defense2007-06-09T00:00:00Zpt_BR
dc.date.available2018-08-09T21:13:12Z-
dc.date.accessioned2018-08-09T21:13:12Z-
dc.description.provenanceMade available in DSpace on 2018-08-09T21:13:12Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Emer_MariaClaudiaFigueiredoPereira_D.pdf: 934024 bytes, checksum: dbb2079115b56358ff3dc9e747df6386 (MD5) Previous issue date: 2007en
dc.identifier.urihttp://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/261002-
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