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Type: TESE
Degree Level: Doutorado
Title: Estudo da rugosidade eletronica em capacitores MOS nanometricos
Author: Lopes, Manoel Cesar Valente
Advisor: Baranauskas, Vitor, 1952-2014
Subject: Simulação (Computadores)
Silício - Propriedades elétricas
Filmes finos - Propriedades elétricas
Dielétricos
Transistores
Aspereza de superficie
Language: Português
Editor: [s.n.]
Date Issue: 2000
Appears in Collections:FEEC - Tese e Dissertação

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