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Type: TESE
Degree Level: Doutorado
Title: Estudo da rugosidade eletronica em capacitores MOS nanometricos
Author: Lopes, Manoel Cesar Valente
Advisor: Baranauskas, Vitor, 1952-2014
Subject: Simulação (Computadores)
Silício - Propriedades elétricas
Filmes finos - Propriedades elétricas
Dielétricos
Transistores
Aspereza de superficie
Language: Português
Editor: [s.n.]
Citation: LOPES, Manoel Cesar Valente. Estudo da rugosidade eletronica em capacitores MOS nanometricos. 2000. 239p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/260315>. Acesso em: 28 jul. 2018.
Date Issue: 2000
Appears in Collections:FEEC - Tese e Dissertação

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