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Type: DISSERTAÇÃO
Degree Level: Mestrado
Title: Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise
Author: Raeder, Gilson de Lima
Advisor: Tatsch, Peter Jürgen, 1949-
Abstract: Resumo: Não informado

Abstract: Not informed.
Subject: Confiabilidade
Falha de sistema (Engenharia)
Engenharia elétrica
Language: Português
Editor: [s.n.]
Citation: RAEDER, Gilson de Lima. Contribuição para estudo de mecanismos de falhas em dispositivos e suas respectivas metodologias de analise. 1992. 120f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/259740>. Acesso em: 15 jul. 2018.
Date Issue: 1992
Appears in Collections:FEEC - Tese e Dissertação

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