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2006Litografia por oxidação anódica seletiva de nanodispositivos através de microscopia de força atômicaFernández Siles, Pablo RobertoRibeiro, Gilberto MedeirosDISSERTAÇÃO
2008Estudo de traços de fissão em vidro utilizando-se microscopias de força atômica e eletrônica de varredura : inferência da estrutura de traços latentes a partir de traços atacadosVellame, Igor Alencar, 1984-Hadler Neto, Julio Cesar, 1947-DISSERTAÇÃO
2001Medidas do perfil da permissividade elétrica em interfaces sólido-líquido, usando microscopia de força atômicaCeotto Filho, GinoTeschke, Omar, 1944-TESE
2008Caracterização elétrica de nanoestruturas semicondutorasVicaro, Klaus Orian, 1978-Cotta, Mônica Alonso, 1963-TESE
2007Origem e estabilidade de nanoestruturas de InAs sobre ligas de InP e InGaAsNieto González, LuisCotta, Mônica Alonso, 1963-TESE
2005Análise do potencial de calibração da força óptica através de dispositivos de microscopia de força atômicaMarques, Gustavo Pires, 1978-César, Carlos Lenz, 1955-DISSERTAÇÃO
2003Universalidade e leis de escalas em amostras de silício atacadas quimicamenteDotto, Marta Elisa RossoKleinke, Maurício Urban, 1958-TESE
2007Formação de ligas em nanocristais epitaxiais de GeSi:Si (001)Leite, Marina SoaresRibeiro, Gilberto MedeirosTESE
2007Microscopia de varredura por sonda aplicada a materiais biológicosLorite, Gabriela Simone, 1983-Cotta, Mônica Alonso, 1963-DISSERTAÇÃO
2008Nanofios semicondutores : análise de propriedades elétricas e estruturais por microscopia no modo Kelvin ProbeNarvaez Gonzalez, Angela CarolinaCotta, Mônica Alonso, 1963-DISSERTAÇÃO