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pat_BR0303987.pdf.jpg12-Jul-2005Medida De Espessuras De Filmes Metálicos Espessos - Que Não Apresentam Mais Correlação Entre A Intensidade De Raios X E A Espessura - Utilizando Espectrometria De Fluorescência De Raios X De Energia DispersivaBueno Maria Izabel Maretti Sil; Jesus Antenor Lopes De Jr-Patente
pat_BR0301390.pdf.jpg8-Mar-2005Método Rápido E Indireto De Medida De Espessuras De Filmes Poliméricos - Que Não Possuem Elementos Que Absorvam Raios X - Utilizando Espectrometria De Fluorescência De Raios X De Energia Dispersiva (edxrf)Bueno Maria Izabel Maretti Sil; Jesus Antenor Lopes De Jr-Patente
pat_BRPI0500753.pdf.jpg17-Oct-2006Método De Controle De Qualidade De Medicamentos Alternativos (genéricos E Similares) Por Espalhamento De Raios-xBueno Maria Izabel Maretti Sil; Borges Simone Soares De Olivei-Patente
pat_BRPI0601864.pdf.jpg30-Oct-2007Método De Classificação De Vegetais Por Espectrometria De Raios-xBueno Maria Izabel Maretti Sil; Alexandre Thais Levatti-Patente
pat_BRPI0502861.pdf.jpg27-Feb-2007Método De Quantificação De Alumìnio Em Sìlica Por Espalhamento De Raios-x Aliado A QuimiometriaBueno Maria Izabel Maretti Sil; Goraieb Karen; Collins Kenneth Elmer-Patente
pat_BRPI0502763.pdf.jpg27-Feb-2007Método De Quantificação De Parámetros Da Indústria Petrolìfera Por Espalhamento De Raios-x E QuimiometriaBueno Maria Izabel Maretti Sil; Henriques Claudete Bernardo-Patente
pat_BRPI0500177.pdf.jpg5-Sep-2006Espalhamento De Raios X E Quimiometria Para Classificação De óleos Vegetais, Animais, Minerais E/ou SintéticosBueno Maria Izabel Maretti Sil; Bortoleto Gisele Goncalves; Pataca Luiz Carlos Moutinho-Patente
pat_BRPI0605464.pdf.jpg15-Jul-2008Método Para Predição De Derivados De Petróleo E Produção De Seus DerivadosBueno Maria Izabel Maretti Sil; Barbosa Carlos Alberto Lourenc; Henriques Claudete Bernardo; Maciel Rubens Jr-Patente
pat_BR0305589.pdf.jpg12-Jul-2005Aplicação Fotocatalìtica De Tio2 Suportado Sobre Peças De Vidro Através De Um Novo Método Adaptado Da Modelagem Por EmulsãoAlves Oswaldo Luiz; Verissimo Carla; Bueno Maria Izabel Maretti Sil; Caballero Nelson Eduardo Duran; Moraes Sandra Gomes De-Patente
pat_BRPI0400867.pdf.jpg8-Nov-2005Espectrometria De Espalhamento De Raios X (eerx) Associada A QuimiometriaBueno Maria Izabel Maretti Sil; Souza Aline Moreira De; Castro Martha Teresa Pantoja D-Patente